规范用词场离子显微术
英文对照field ion microscopy;FIM
名词定义依据气体场致电离原理成像，用场离子显微镜、原子探针在原子尺度上研究材料显微组织和成分的技术。
所属学科材料科学技术 > 材料科学技术基础 > 材料科学基础 > 材料的表征与测试
名词审定材料科学技术名词审定委员会
见载刊物《材料科学技术名词》 科学出版社
公布时间2011年
