质子X射线荧光分析
规范用词质子X射线荧光分析
英文对照proton-induced X-ray emission;PIXE
名词定义以入射高能质子(或氦粒子)束诱发待分析元素发射特征X射线，从而分析薄膜及近表面层化学成分的一种方法。
中文又称粒子X射线荧光分析
所属学科材料科学技术 > 材料科学技术基础 > 材料科学基础 > 材料的表征与测试
名词审定材料科学技术名词审定委员会
见载刊物《材料科学技术名词》 科学出版社
公布时间2011年
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