规范用词X射线形貌术
英文对照X-ray topography
名词定义根据X射线在晶体中衍射衬度变化和消像规律，检查晶体材料及器件表面和内部微观结构缺陷的一种方法。
所属学科材料科学技术 > 材料科学技术基础 > 材料科学基础 > 材料的表征与测试
名词审定材料科学技术名词审定委员会
见载刊物《材料科学技术名词》 科学出版社
公布时间2011年
