分析电子显微术
规范用词分析电子显微术
英文对照analytical electron microscopy;AEM
名词定义用高能电子束照射样品，收集、测定和分析样品局部区域发射出的各种信号的理论和技术。具有很高的空间分辨率，设备为分析电子显微镜。
所属学科材料科学技术 > 材料科学技术基础 > 材料科学基础 > 材料的表征与测试
名词审定材料科学技术名词审定委员会
见载刊物《材料科学技术名词》 科学出版社
公布时间2011年
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