透射电子显微术
规范用词透射电子显微术
英文对照transmission electron microscopy;TEM
名词定义利用穿透薄膜试样的电子束进行成像或微区分析的一种电子显微术。能获得高度局域化的信息，是分析晶体结构、晶体不完整性、微区成分的综合技术。
所属学科材料科学技术 > 材料科学技术基础 > 材料科学基础 > 材料的表征与测试
名词审定材料科学技术名词审定委员会
见载刊物《材料科学技术名词》 科学出版社
公布时间2011年
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